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Programação comemorativa para o Dia Mundial da Metrologia, na sede do IRD, RJ

 

 

   O IRD promoverá uma cerimônia comemorativa pelo Dia Mundial da Metrologia, dia 17 de maio, a partir das 9 horas, com a presença do presidente da CNEN Paulo Roberto Pertusi, do diretor do instituto, Renato Di Prinzio, entre outros dirigentes e gestores de instituições científicas e tecnológicas. Após a abertura, haverá uma palestra aberta ao público em geral sobre o panorama da metrologia no país, pelo pesquisador Carlos  Eduardo Veloso de Almeida, coordenador do programa nacional de formação da Fundação do Câncer e ex-diretor do IRD. Na tarde do mesmo dia e na manhã do dia 18 será realizado o workshop Incertezas na medição de monitores de radiação. O evento técnico é fechado aos membros da rede nacional. O instituto é o Laboratório Nacional de Metrologia das Radiações Ionizantes, com designação do Inmetro, voltado à promoção da rastreabilidade e confiabilidade das  medições na área no país. 

   O Dia Mundial da Metrologia é comemorado no dia 20 de maio, em mais de 80 países, e organizado anualmente pelo BIPM (Bureau Internacional de Pesos e Medidas) em parceria com a  Organização Internacional de Metrologia Legal . Não é necessário inscrição prévia para a palestra, mas é recomendável que os interessados em participar da palestra encaminhem e-mail contendo nome completo, e-mail, documento de identificação, instituição de origem e área de atuação para natasha@colaborador.ird.gov.br.  O evento tem apoio da Rede de Radioproteção e Dosimetria Metroradi.

 

Imagem Workshop IRD

 

Comunicação IRD

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